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X射線熒光光譜儀按照分辨率有高中低三種類型
X射線熒光光譜儀按照分辨率有高中低三種類型
點(diǎn)擊次數(shù):1998次 更新時(shí)間:2020-11-10
X射線熒光光譜儀
已廣泛應(yīng)用于材料、冶金、地質(zhì)、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境監(jiān)測(cè)、天體物理、文物考古、刑事偵察、工業(yè)生產(chǎn)等諸多領(lǐng)域,是一種快速、無(wú)損、多元素同時(shí)測(cè)定的分析技術(shù)。采用固定通道,減少測(cè)量時(shí)間;固定通道尤其適用于熒光產(chǎn)額較低的輕元素和微量元素的測(cè)定,以提高分析精度和靈敏度。X熒光光譜儀采用操作方便,用戶習(xí)慣的智能化軟件,提供全自動(dòng)分析操作,實(shí)現(xiàn)快速定性、定量分析和半定量分析。
X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀,分辨率較低的便攜式光譜儀,和介于兩者之間的臺(tái)式光譜儀。高分辨率光譜儀通常采用液氮冷卻的半導(dǎo)體探測(cè)器,如Si(Li)和高純鍺探測(cè)器等。低分辨便攜式光譜儀常常采用正比計(jì)數(shù)器或閃爍計(jì)數(shù)器為探測(cè)器,它們不需要液氮冷卻。近年來(lái),采用電致冷的半導(dǎo)體探測(cè)器,高分辨率譜儀已不用液氮冷卻。同步輻射光激發(fā)X射線熒光光譜、質(zhì)子激發(fā)X射線熒光光譜、放射性同位素激發(fā)X射線熒光光譜、全反射X射線熒光光譜、微區(qū)X射線熒光光譜等較多采用的是能量色散方式。
X射線熒光光譜儀優(yōu)點(diǎn):
1、分析時(shí)間短。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān),但一般都很短,2~5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。
2、適用范圍廣。X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在X射線范圍內(nèi),這種效應(yīng)更好。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。
3、非破壞分析,重現(xiàn)性好。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量,結(jié)果重現(xiàn)性好。
4、X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
5、分析精密度高。
6、制樣簡(jiǎn)單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
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